临床药物试验机构办公室配套的2-8度冰箱附带校准证书

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Simplelink传感器控制器是专用的16位处理单元(CPU)核心，在活动模式、待机模式和启动耗能阶段均只消耗极低功率。如图2所示，该传感器控制器包括模拟和数字外围设备，它们专为实现超低功率而进行了优化。利用这些外围设备和2MHz时钟模式，使得该控制器非常适合感应式测量应用，从而实现超低功率：，基于感应式测量原则，可以在100Hz时达到低至3.9μA的平均电流消耗值。欲了解详情，请参阅流量表应用示例，阅读“采用CC13x2R无线MCU的单芯片流量表解决方案。

半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。